Статья для разбора:
He, K., Zhang, X., Ren, S., & Sun, J. (2016). Deep residual learning for image recognition. In Proceedings of the IEEE conference on computer vision and pattern recognition (pp. 770-778).

Докладчик 1: Гольденберг Егор
Докладчик 2: Некряч Александр

Гость: Ростислав Епифанов
м.н.с. лаборатории прикладных цифровых технологий ММЦ